علیرضا ظریفیان گرانسایه
اشتراک مکتبپلاس
خرید اشتراکبا خرید اشتراک مکتبپلاس، علاوه بر این دوره، به بیش از ۴،۰۰۰ دوره دیگر دسترسی خواهید داشت.
مبانی فیزیکی اشعه ایکس
شناخت روشهای فیلتراسیون اشعه ایکس
درک تفاوتهای مفهومی و علمی میان پدیدههای تفرق (Diffraction) و پراش (Scattering)، و همچنین تمایز دقیق بین دیفرکشن (Diffraction) و رفلکشن (Reflection)
تکنیکهای پیشرفته آنالیز
1 ساعت ویدئو
دسترسی مادامالعمر به محتوای دوره
در این دوره با کاربرد اشعه ایکس در بلورشناسی و نقش آن در شناسایی و تحلیل ساختار مواد آشنا میشوید.
ابتدا مفاهیم پایهای مانند اشعه ایکس، تاریخچه کشف آن، و روشهای فیلترسازی اشعه ایکس بررسی میشود.
سپس به اشعه ایکس مشخصه و پیوسته و تفاوتهای آنها پرداخته خواهد شد.
در ادامه، تکنیکهای آنالیز مواد مبتنی بر پراش پرتو ایکس و اصول عملکرد آنها آموزش داده میشود.
همچنین تفاوت مفاهیم مهمی مانند تفرق و پراش و دیفرکشن و رفلکشن بهصورت دقیق توضیح داده میشود.
در پایان، با آنالیز XRD و کاربرد آن در شناسایی فازها و بررسی ساختار بلوری مواد آشنا خواهید شد.
این دوره برای دانشجویان و علاقهمندان به بلورشناسی، مواد، فیزیک و مهندسی بسیار مفید است.
هنوز امتیاز و دیدگاهی برای این دوره ثبت نشده است
مهندس علیرضا ظریفیان گرانسایه ، کارشناس و کارشناس ارشد رشته مهندسی مواد و متالورژی، رتبه 11 کنکور دکتری سال 1405 دستیار آموزشی درس بلور شناسی و علم مواد با سابقه برگزاری بیش از 280 ساعت اموزش حضوری حرفه ای در دانشگاه فردوسی مشهد دانشکده مهندسی.